Artículos de casos de estudio
Análisis de película delgada de nitruro de titanio (TiN) mediante difracción de rayos X de incidencia rasante Torontech FRINGE (GIXRD)
Comprender la estructura y la cristalinidad de los recubrimientos ultrafinos de nitruro de titanio (TiN) es crucial para el control de calidad y el rendimiento del producto, especialmente en microelectrónica, óptica y superficies…