Analizador XRD portátil - Difractómetro de rayos X - Familia SHINE
Materiales como minerales, corrosivos y otros compuestos pueden someterse a análisis de fase in situ, lo que ofrece a los usuarios datos rápidos sobre los componentes mayores y menores presentes en la muestra.
Presentamos el Analizador XRD Portátil – Difractómetro de Rayos X de la Familia SHINE, una solución innovadora para el análisis de materiales in situ. Este versátil instrumento integra las tecnologías XRD y XRF, lo que permite la recopilación simultánea de datos de fotones de rayos X para proporcionar información completa sobre la composición, fase y estructura del material.
Gracias a su operación con una sola tecla y a sus funciones de detección automática, el análisis de muestras es sencillo y preciso. Su diseño compacto e integral lo hace resistente al agua, al polvo y fácil de transportar, ideal para investigación de laboratorio y de campo. Equipado con un detector CCD, ofrece una precisión mejorada al capturar cortes del anillo de difracción para garantizar una preparación adecuada de la muestra y datos representativos.
Además, los usuarios pueden elegir entre objetivos de ánodo de Cu y Co para adaptar el instrumento a las necesidades específicas de su aplicación. Únase hoy mismo a la familia SHINE para disfrutar de un control y análisis de fase fiables en tiempo real dondequiera que vaya.
15KG
Portátil, fácil de operar, bueno para investigación de laboratorio/campo.
IP67
Diseño de máquina todo en uno con caja resistente al agua y al polvo, fácil de soportar el duro entorno exterior
1MIN
Muestra fácil de preparar, hasta 1 minuto
